手機結(jié)構(gòu)可靠性測試的跌落測試的方法是什么？

一般來說，可靠性測試可分為加速壽命試驗、結(jié)構(gòu)耐久性試驗、氣候適應(yīng)性試驗、表面裝飾試驗和特殊條件試驗。較常見的結(jié)構(gòu)問題包括落錘測試、反復(fù)下落、車輪等。下面就由我們上海天梯來進行解答：

   首先第1個是跌落測試，它的測試環(huán)境是要求室溫在20-25℃，跌落測試的測試目的是是讓高低溫沖擊暴露樣品缺陷，測試設(shè)備有跌落測試儀。測試的項目包含了電氣性能參數(shù)測試被檢體。測試中還包括對手機的功能測試：其中包括的功能測試有通話、顯示屏、鈴聲、震動、回聲、照明、拍照、充電、藍牙、按鍵、聽筒、聽筒、迷你SD卡等。以及需要測試手機的結(jié)構(gòu)測：包括手機的外殼附件、結(jié)構(gòu)附件、天線、鏡頭、顯示器、附件和其他未說明的結(jié)構(gòu)。4)外觀測試:噴涂、印刷、電鍍以及其他的結(jié)構(gòu)。較后一個就是手機的內(nèi)存時鐘：在原型內(nèi)存包含5個電話和5條信息，設(shè)置手機上的始終為當前日期和時間。

手機跌落的測試方法:將試驗的手機保持為插卡的狀態(tài)，在1.5米長的手機的6個面上進行自由落體實驗，每面下落2次，每面檢測手機的形狀、結(jié)構(gòu)、內(nèi)存、時間和功能。試驗手機的墜落順序為直銷和翻轉(zhuǎn)手機(左、后、右、下、上、前。在下落過程中，對于翻蓋手機，一半樣品將打開到使用位置，一半樣品將關(guān)閉到初始狀態(tài)。樣品數(shù)量為奇數(shù)時，打開蓋子或滑動其他樣品的滑蓋。跌落測試的試驗條件要求高度為1.5米高，20毫米厚大理石落地。測試的標準定為手機外觀、結(jié)構(gòu)、功能、記憶時間都正常說明設(shè)備正常。

較終跌落測試的功能檢查標準樣機可以正常電話、顯示屏、振動、LED、揚聲器、聽筒、回聲、按鍵、拍照、正常充電等未說明的功能都是正常的。它的蓋子不會出現(xiàn)脫落、鉤子脫落、斷裂、旋轉(zhuǎn)軸不能有松動、偏移、脫落和破損等現(xiàn)象出現(xiàn)。

我們必須要了解可靠性實驗的方法和標準，我們上海天梯成立于2013年，我司工作人員均具備雄厚的實力和豐富的實踐經(jīng)驗，傾力為客戶提供更滿意的服務(wù)！