芯片可靠性測試之HAST高壓加速老化測試
142020-12
芯片需要做什么測試?芯片的測試主要分為三大類:芯片功能測試、性能測試、可靠性測試。這三大測試缺一不可。而芯片可靠性測試中,不可或缺的是HAST測試!
可靠性測試三綜合試驗
302020-11
三綜合試驗是將溫度+濕度+振動三種環(huán)境應(yīng)力同時施加的綜合試驗,綜合環(huán)境的作用能更真實、更實際的反應(yīng)出產(chǎn)品在現(xiàn)場使用中的性能,更能暴露產(chǎn)品的缺陷。
什么是雙85環(huán)境試驗
272020-11
恒溫恒濕試驗用于檢測材料或者產(chǎn)品在各種環(huán)境下的耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能,而雙85試驗則是針對產(chǎn)品的耐濕熱的性能測試。雙85試驗是指在85℃/85%RH的條件下老化產(chǎn)品后,對比產(chǎn)品老化前后的性能變化,...
GBT13625-2018核電廠安全級電氣設(shè)備抗震
232020-11
設(shè)備的抗震鑒定應(yīng)證明在承受由一個安全停堆地震產(chǎn)生的作用力期間和(或)之后設(shè)備執(zhí)行其安全功能的能力。另外,在承受安全停堆地震之前,設(shè)備應(yīng)承受若干運行基準地震的作用。
什么是可靠性(環(huán)境)試驗?
192020-11
通常環(huán)境可靠性試驗分為以下三類:力學(xué)環(huán)境試驗、氣候環(huán)境試驗和綜合環(huán)境試驗。力學(xué)環(huán)境試驗主要包括機械振動、機械沖擊、跌落、碰撞、穩(wěn)態(tài)加速度試驗等,氣候環(huán)境試驗主要包括溫度試驗、溫濕度試驗、氣壓試驗、水試...
簡述氙燈老化與紫外線老化有什么區(qū)別?
氙燈老化和紫外線老化同樣是老化作用,但他們兩者之間是有很多區(qū)別的。氙燈老化主要是模擬全陽光光譜。紫外線老化試驗箱亦稱紫外線耐候試驗箱,紫外線人工加速耐候箱,主要是模擬太陽光中的紫外光線。
世界上朂大地震模擬振動臺
182020-11
你知道世界上朂大的地震模擬振動臺在哪里嗎?還是我來告訴你答案吧--日本兵庫縣E-Defense日本國家防災(zāi)科學(xué)技術(shù)研究所,他們的振動臺是目前朂大的三維振動臺,也就是能同時在上下、左右、前后三個方向運動...
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